 |
 |
 |
Физическая энциклопедия ЛАУЭ МЕТОД
ЛАУЭ МЕТОД
метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного (в 1912) в Германии В. Фридрихом (W. Friedrich) и П. Книппингом (Р. К nipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue), в к-ром была впервые обнаружена дифракция рентг. излучения на кристалле. В Л. м. тонкий пучок рентг. излучения непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый обычно на гониометрич. головке (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР).  Схема метода Лауэ. SO — первичный пучок; К — кристалл; ММ' — направление кристаллографич. плоскости, находящейся в отражающем положении; KL — отражённый луч; РР' — фотоплёнка. Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга — Вульфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему излучению (рис.). В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой. Л. м. применяется для пространств. ориентации монокристаллов, в особенности неогранённых (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ), исследования совершенства внутр. строения монокристалла (см. РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ), фононных спектров, процессов распада, старения и перестройки крист. структуры (напр., под действием темп-ры, облучения нейтронами или gm-излучением и т. д.; (см. РЕНТГЕНОГРАФИЯ МАТЕРИАЛОВ) и неупругих когерентных процессов.
Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1983.
ЛАУЭ МЕТОД
- метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей; один из методов рентгеновского структурного анализа. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного в 1912 В. Фридрихом (W. Fried-rich) и П. Книппингом (P. Knipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue); в этом эксперименте была открыта дифракция рентг. излучения на кристалле.
Схема метода Лауэ: SO - первичный пучок лучей; К- кристалл; ММ'- пространственная ориентация одной из находящихся в отражающем положении систем атомных плоскостей кристалла; KL- отражённый (дифрагированный) луч;
В Л. м. тонкий пучок рентг. лучей непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый на гониометрич. головке (см. Рентгеновский гониометр). Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга - Вулъфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему пучку лучей; полученное изображение наз. лауэграм-мой. В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой. Л. м. применяется для пространственной ориентировки монокристаллов (в особенности неогранённых), определения точечной группы симметрии кристаллов, исследования реальной структуры и совершенства внутр. строения монокристаллов (см. также Рентгеновская топография). Л. м. используется также для исследования процессов старения и распада в метас-табильных фазах, перестройки кристаллич. структуры под действием темп-ры, облучения нейтронами или g-излучением (см. Рентгенография материалов), а также неупругих когерентных процессов рассеяния рентг. излучения и др. проблем. Лит. см. при ст. Дифракция рентгеновских лучей. Рентгеновский структурный анализ. А. В. Колпаков. Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1988. Оригинал статьи 'ЛАУЭ МЕТОД' на сайте Словари и Энциклопедии на Академике Турнавигатор 
|
- фотоплёнка. 
|
WMID:
E-mail:
